當(dāng)氣密性檢漏儀測試完成后，排出產(chǎn)品內(nèi)部的氣體將產(chǎn)品和密封工裝上的部分溫度帶走。

若立即用氣密性檢漏儀對同一產(chǎn)品進(jìn)行二次試驗，會出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部氣體溫度先降后穩(wěn)壓后回復(fù)升高的狀態(tài)，這會導(dǎo)致在測試階段內(nèi)腔內(nèi)壓力有微小上升的狀態(tài)，將抵消部分原有的泄漏量。

在對同一產(chǎn)品進(jìn)行重復(fù)測試時，兩個測試之間需要有足夠的時間間隔，以使產(chǎn)品回復(fù)到正常測試狀態(tài)，每一個測試間隔時間是一致的。當(dāng)使用氣密性檢漏儀進(jìn)行重復(fù)測試時，可以選擇多個產(chǎn)品循環(huán)測試的方式。

在真空環(huán)境中，不受溫度變化的影響？試驗誤差隨試驗壓力的加大而加大。試驗壓力越接近真空，誤差越小。

如果實際溫度是穩(wěn)定的，則不同的溫度環(huán)境對試驗結(jié)果的影響不大，例如溫度環(huán)境差5℃之間的差異大約在5/(273+20)=1.7%。而且如果在測試過程中發(fā)生溫度變化，對測試結(jié)果有很大的影響！

氣體分子在充氣過程中摩擦產(chǎn)生熱量，根據(jù)氣體方程式PV=NRT，可知會使試驗腔內(nèi)壓力升高，當(dāng)充氣結(jié)束時溫度又會慢慢恢復(fù)到正常的室溫，所以充氣結(jié)束后的穩(wěn)定壓時間如果不夠充分，即到測試階段腔體內(nèi)部溫度仍處于下降的回復(fù)期，則由此導(dǎo)致的壓力下降將直接反映到氣密性檢漏儀所測試的泄漏量中。

具有較高溫度的工件在進(jìn)行測試時，會對充氣進(jìn)行較長時間的加熱，在測試過程中產(chǎn)品內(nèi)部的氣壓不會下降反升，測試結(jié)果為負(fù)值。

如果是直接在低溫環(huán)境下進(jìn)行高溫環(huán)境試驗的產(chǎn)品，氣密性檢漏儀因溫度和測試時間的不同，可能會出現(xiàn)泄漏量變大的情況，也可能出現(xiàn)不同的測試負(fù)值現(xiàn)象。

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